diffraction ပြင်းထန်မှု၏ LCP-27 အတိုင်းအတာ
ဖော်ပြချက်
စမ်းသပ်မှုစနစ်ကိုအဓိကအားဖြင့်အစိတ်အပိုင်းများစွာဖြင့်ဖွဲ့စည်းထားသည်။ ဥပမာအလင်းအရင်းအမြစ်၊ diffraction plate၊ ပြင်းထန်သောအသံသွင်းစက်၊ ကွန်ပျူတာမျက်နှာပြင်မှတဆင့်စမ်းသပ်ရလဒ်များကို optical platform အတွက်ပူးတွဲဖိုင်တစ်ခုအဖြစ်အသုံးပြုနိုင်ပြီး၎င်းကိုစမ်းသပ်မှုတစ်ခုတည်းအဖြစ်လည်းအသုံးပြုနိုင်သည်။ အလင်းစနစ်၏ပြင်းထန်မှုနှင့်မြင့်မားသောတိကျမှန်ကန်မှုရှိသည့်နေရာရွှေ့ပြောင်းနိုင်သောအာရုံခံကိရိယာကိုတိုင်းတာရန်ဓာတ်ပုံစနစ်ပါသောအာရုံခံကိရိယာတပ်ဆင်ထားသည်။ ဆန်ခါအုပ်သည်နေရာရွှေ့ပြောင်းမှုကိုတိုင်းတာနိုင်သည်။ ကွန်ပျူတာသည်ဒေတာရယူခြင်းနှင့်ထုတ်ယူခြင်းကိုထိန်းချုပ်သည်။ တိုင်းတာမှုရလဒ်များကိုသီအိုရီပုံသေနည်းနှင့်နှိုင်းယှဉ်နိုင်သည်။
စမ်းသပ်မှု
၁။ အလျားလိုက်အပေါက်တစ်ခု၊ အလျားလိုက်အပေါက်၊ အစရှိသည့်စတုဂံများနှင့်အမျိုးမျိုးသောစတုဂံပုံအနိမ့်အမြင့်စစ်ဆေးခြင်း၊
2. ကွန်ပျူတာတစ်ခုသည်အလျားလိုက်အပေါက်တစ်ခု၏နှိုင်းယှဉ်ပြင်းထန်မှုနှင့်ပြင်းထန်မှုဖြန့်ဖြူးမှုကိုမှတ်တမ်းတင်ရန်အသုံးပြုသည်။ တစ်ခုတည်းသောအလျားလိုက်အပေါက်တစ်ခု၏အကျယ်ကိုတွက်ချက်ရန်တစ်ခုတည်းအလျားလိုက်အပေါက်တစ်ခုစီ၏အကျယ်ကိုတွက်ချက်သည်။
အမျိုးမျိုးသောအလျားလိုက်အပေါက်များ၊ စတုဂံတွင်းအပေါက်များနှင့်မြို့ပတ်ရထားတွင်းများ၏ diffraction များ၏ပြင်းထန်မှုကိုဖြန့်ဝေသည်ကိုလေ့လာရန်
တစ်ခုတည်းအလျားလိုက်၏ Fraunhofer diffraction လေ့လာရန် 4.To
အလင်းပြင်းထန်မှု၏ဖြန့်ဖြူးဆုံးဖြတ်ရန် 5.To
အသေးစိတ်ဖော်ပြချက်များ
|
ပစ္စည်း |
အသေးစိတ်ဖော်ပြချက်များ |
| He-Ne လေဆာလေဆာ | 632,8 nm @> 1.5 မဂ္ဂါဝပ် |
| Single- အလျားလိုက်အပေါက် | 0.01 မီလီမီတာ၏တိကျမှုနှင့်အတူ 0 ~ 2 မီလီမီတာ (ချိန်ညှိ) |
| Image ကိုတိုင်းတာခြင်း Range | 0,03 မီလီမီတာအလျားလိုက်အပေါက်, 0.06 မီလီမီတာအလျားလိုက်အပေါက်အကွာအဝေး |
| Projective ကိုးကားစရာဆန်ခါ | 0,03 မီလီမီတာအလျားလိုက်အပေါက်, 0.06 မီလီမီတာအလျားလိုက်အပေါက်အကွာအဝေး |
| CCD စနစ် | 0,03 မီလီမီတာအလျားလိုက်အပေါက်, 0.06 မီလီမီတာအလျားလိုက်အပေါက်အကွာအဝေး |
| Macro မှန်ဘီလူး | silicon photocell |
| AC ပါဝါဗို့အား | 200 မီလီမီတာ |
| အတိုင်းအတာတိကျမှန်ကန်မှု | ± 0.01 မီလီမီတာ |
